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大図 章; 伊藤 和範*; 的場 徹; 河西 俊一; 有澤 孝
Review of Scientific Instruments, 70(9), p.3776 - 3777, 1999/09
被引用回数：1 パーセンタイル：20.55(Instruments & Instrumentation)従来の技術では、連続的なエネルギー分布を有するX線パルスの平均光子エネルギーを1回の測定では求めることはできない。これを求めるには吸収体の厚みを変えてX線パルスを何回も計測して減衰曲線の傾きを求めなければならない。したがって繰り返してX線パルスの発生が容易でない場合、多くの時間、手間を必要とする。これを克服するために、MOSリニアセンサー、シンチレータ付ファイバープレート及び連続的な厚みを持つ吸収体等からなる計測システムを開発した。本システムでは、1回の計測で精度の良い減衰曲線が得られ、X線パルスの平均光子エネルギーを簡単に求めることができた。これにより、これまで必要だった多くの計測時間、作業とX線パルスの発生を大幅に省略することができた。
荒川 和夫; 中村 義輝; 横田 渉; 奈良 孝幸; 上松 敬; 奥村 進; 石堀 郁夫; 福田 光宏
Proceedings of 14th International Conference on Cyclotrons and Their Applications, 0, p.57 - 60, 1996/00
JAERI-AVFサイクロトロンは、ファーストビームの加速以来、10000時間以上にわたって各種のビームを研究利用に提供してきた。これまで加速したイオン種についての入射効率、引き出し効率および輸送効率と加速モードの関係について述べる。また,イオン入射系のPチョッパーと外部ビーム輸送系のSチョッパーを組み合わせた単一パルスの生成実験、ビームアッテネータによるサイクロトロンからの引き出し電流制御(1桁毎に10
~10
)実験、および大面積照射の均一度向上のためのビームスキャナー電源の改良と2次元ビームフルエンス分布の測定結果等を含めて、サイクロトロンの現状について報告する。
荒川 和夫; 中村 義輝; 横田 渉; 奈良 孝幸; 上松 敬; 奥村 進; 石堀 郁夫; 福田 光宏
JAERI-Conf 95-021, 0, p.32 - 34, 1995/10
JAERI-AVFサイクロトロンは、ファーストビームの加速以来、10000時間以上にわたって各種のビームを研究利用に提供してきた。これまで加速したイオン種についての入射効率、引き出し効率および輸送効率と加速モードの関係について述べる。また、イオン入射系のPチョッパーと外部ビーム輸送系のSチョッパーを組み合わせた単一パルスの生成実験、ビームエネルギーの絶対値測定実験、およびECRイオン源による金属イオンの生成実験結果等を含めて、サイクロトロンの現状について報告する。
